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測試插座
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空隙式測試插座
於測試插座的中央打開空隙有助於改善測試插座的電氣性能。
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同軸接觸器
於測試插座的中央加入金屬板,可以控制探針的阻抗，同時改善接觸器的頻寬、串擾和電感。
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PoP測試插座
我們具有0.4mm PoP插座的測試方案。測試頻寬高達5GHz,接觸電阻值低於100mΩ。
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複式測試插座
TTS提供各種不同設計的複式測試插座，可進行多達24項的測試。
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| 處理機&工程測試接口： |
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TTS擁有一支具有豐富知識和經驗的工程團隊，其設計的測試插座，滿足客戶對電氣性能以及優良機械性能的測試要求。
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為了確保硬件壽命以及成本有效運作，插座的設計和製作是選用適當的材料及探針以滿足客戶的測試需求。
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研發/手動測試/處理機的測試方案包括：BGA,LGA,PGA,QFN,QFP。
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| 機械性能: |
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插座壽命: > 500,000轉
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溫度範圍: - 40Cº ~ +150Cº
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間距: 0.2 – 1.27mm
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| 電氣性能: |
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頻寬: 20 GHz @ -1 dB
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接觸電阻: < 75mΩ
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自感: < 1 nH
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QFP
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QFN
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BGA
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PGA
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LGA
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高數量探針插座
(多達3000個引腳)
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溫測試插座
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浮板式插座:
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彈簧式設計的浮板，用於調整IC的焊球對準測試探針，以提供更好的接觸點。
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SIS 插座 (Substrate In Socket):
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Substrate 的作用是用電路板將小間距的線路轉換成大間距，以方便客戶可以使用大間距的轉載板測試小間距的IC。
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