Test Tooling Solutions Group

		探針測量方式與模擬測試 (Probe Measurement & Simulation)
		分析與模擬數據 (Analysis and Simulated Data)
		電流測量 (Current Measurement)
		探針壽命驗證 (Probe Lifespan Validation)
		接觸電阻測量方法 (CRES Measurement)

接觸電阻測量方法 (Contact Resistance (CRES) Measurement Methodologies)

		輸送0.02A於每一支探針
		從圖表顯示接觸電阻測量的結果
		我們設定的探針標準為，少過50mΩ的接觸阻抗同時壽命達到100K循環測試
		斷路與短路測試

圖表(a)上所強調的部分為眾多接觸電阻的其中一個接觸點。
圖表(b)则顯示每一階段所測量的探針平均接觸電阻值。