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分析與測量方法 (ANALYSIS AND MEASUREMENT METHODOLOGY)
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探針測量方式與模擬測試 (Probe Measurement & Simulation)
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我們非常注重高頻的電氣參數。以下圖片所顯示的是我們用以測量探針的性能以及高頻參數的方式。
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PNA-L N5230L 20Ghz是我們用以測量高頻參數的儀器，與其同時，探針必須放進一個特別的插座，插座將放置於Cascade Micro-Probing Station的探針測試台。所有的探針都跟據真實測試情況以及經過嚴格的測試，這是避免或減少測量數據的準確性。最後，我們可以從測量數據裡得到頻寬與高頻性能。
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我們的測試裝備是由一個佈滿的探針插座所組成。探針兩端的盡頭是連接到PCB，而所測試到的高頻數據在市面上通稱為插入損(IL)與迴波損(RL) 。而不同的數據則需要配合不同的治具與結構來完成測試。
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