Test Tooling Solutions Group

新聞與事件

	週五， 2010年2月5日
	我們邀請您在2010年3月16日- 3月18日來參觀我們在中國SEMICON China展覽會。我們在二樓展覽大廳的2135號展覽廳。屆時將展示我們最新和耐用性強的測試探針和插座的設計，製作；另外還有老化測試板和ATE電路板。您將有機會與我們的應用工程師現場討論您的具體需求。