Photo See Long 提供質量優異與可靠性的解決方案
TTS集團通過對創新,良率,質量,可靠性和及時交貨等幾方面的不懈追求以降低客戶的最終測試總成本...
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我們邀請您在2010年3月16日- 3月18日來參觀我們在中國SEMICON China展覽會。我們在二樓展覽大廳的2135號展覽廳....
  BGA Photo 0.2mm 間距測試插座給予各種類型的封裝測試
基於市場上對微間距晶片產品的需求與日劇增,TTS 推出了0.2mm間距的測試插座給予BGA,CSP,QFN,QFP 等各種類型的晶片封裝。 它能符合高傳導速度及,高密度測試插座的要求。直徑於0.12mm的彈簧探針組裝在0.2mm間距的測試插座內和這0.12mm的探針也可用於Kelvin測試的插座。
 
  新加坡
2010年8月1日,14:45
  檳城, 馬來西亞
2010年8月1日,14:45
  蘇州, 中國
2010年8月1日,14:45
  倫敦, 英國
2010年8月1日,07:45
  聖克拉拉, 美國
2010年7月31日,23:45
  曼谷,泰國
2010年8月1日,13:45
  東京,日本
2010年8月1日,15:45
  台北,台灣
2010年8月1日,14:45
 
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