Test Tooling Solutions Group

		探针测量方式与模拟测试 (Probe Measurement & Simulation)
		分析与模拟数据 (Analysis and Simulated Data)
		电流测量 (Current Measurement)
		探针寿命验证 (Probe Lifespan Validation)
		接触电阻测量方法 (CRES Measurement)

接触电阻测量方法 (Contact Resistance (CRES) Measurement Methodologies)

		输送0.02A于每一支探针
		从图表显示接触电阻测量的结果
		我们设定的探针标准为，少过50mΩ的接触阻抗同时寿命达到100K循环测试
		断路与短路测试

图表(a)上所强调的部分为众多接触电阻的其中一个接触点。
图表(b)则显示每一阶段所测量的探针平均接触电阻值。