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分析与测量方法 (ANALYSIS AND MEASUREMENT METHODOLOGY)
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探针测量方式与模拟测试 (Probe Measurement & Simulation)
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我们非常注重高频的电气参数。以下图片所显示的是我们用以测量探针的性能以及高频参数的方式。
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PNA-L N5230L 20Ghz是我们用以测量高频参数的仪器，与其同时，探针必须放进一个特别的插座，插座将放置于Cascade Micro-Probing Station的探针测试台。所有的探针都跟据真实测试情况以及经过严格的测试，这是避免或减少测量数据的准确性。最后，我们可以从测量数据里得到频宽与高频性能。
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我们的测试装备是由一个布满的探针插座所组成。探针两端的尽头是连接到PCB，而所测试到的高频数据在市面上通称为插入损(IL)与回波损(RL) 。而不同的数据则需要配合不同的治具与结构来完成测试。
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